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日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
- 更新日期：2025-10-25
- 訪問(wèn)次數(shù)：4313?
日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
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日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
JSM-IT800 整合了我們用于從高分辨率成像到快速元素分析的“浸沒(méi)式肖特基 Plus 場(chǎng)發(fā)射電子槍"、創(chuàng)新的電子光學(xué)控制系統(tǒng)“Neo Engine"以及無(wú)縫 GUI 系統(tǒng)“SEM Center"，該系統(tǒng)采用一體化 JEOL X 射線能量色散譜儀 (EDS) 作為通用平臺(tái)，進(jìn)行快速元素分析。
JSM-IT800 允許物鏡作為一個(gè)更換模塊，提供不同的版本以滿足各種用戶需求。JSM-IT800 有五種版本，提供不同的物鏡：混合型物鏡 (HL)，這是一種通用 FE-SEM；超級(jí)混合物鏡（SHL/SHLs，具有不同功能的兩種版本），可實(shí)現(xiàn)更高分辨率的觀察和分析；以及新開(kāi)發(fā)的半浸沒(méi)式物鏡（i/is，具有不同功能的版本），適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
此外，JSM-IT800 還可以配備新型閃爍體背散射電子探測(cè)器 (SBED) 和多功能背散射電子探測(cè)器 (VBED)。SBED 支持以高響應(yīng)性獲取圖像，即使在低加速電壓下也能產(chǎn)生清晰的成分襯度，而 VBED 可以幫助獲取 3D、形貌和成分襯度的圖像。因此，JSM-IT800 可以幫助用戶獲取豐富多樣德 信息并解決測(cè)量中的問(wèn)題。
主要的選配件
高位電子檢測(cè)器 (UED)
背散射電子檢測(cè)器 (BED)
閃爍體背散射電子檢測(cè)器（SBED)
多用途背散射電子檢測(cè)器（VBED)
透射電子檢測(cè)器（TED)
低真空 （含低真空背散射電子檢測(cè)器LVBED)
低真空二次電子檢測(cè)器 (LVSED)
電子背散射衍射 (EBSD)
波譜儀 (WDS)
軟X射線分光器 (SXES)
探針電流檢測(cè)器
樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)
樣品室相機(jī)
操作桌
操作面板
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